Inspección de defectos/ampollas en moldes de CI

Industria:Dispositivos electrónicosSemiconductores / LCDProductos:Visión

Inspección de defectos/ampollas en moldes de CI — aplicación resuelta con Serie VS

Con los sistemas convencionales, la inspección se ve afectada por el deslumbramiento y la textura de la superficie del objeto. LumiTrax™ permite detectar únicamente manchas y defectos en las líneas.

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